Zugriffsnummer 55801
Dokumenttyp Konferenzartikel
Sprache Deutsch
Titel Berücksichtigung von Unsicherheiten bei der automatisierten und adaptiven Modellierung von smarten multidimensionalen Messungen mittels Machine Learning
Autor(in); Institution
Huber, Meike; RWTH Aachen University, Aachen, GERMANY
Müller, Tobias; RWTH Aachen University, Aachen, GERMANY
Marschall, Manuel; 8.4, Mathematische Modellierung und Datenanalyse, PTB-Berlin
Kästner, Bernd; 7.1, Radiometrie mit Synchrotronstrahlung, PTB-Berlin
Schmitt, Robert; RWTH Aachen University, Aachen, GERMANY
Quelle/Jahr Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen – Prüfprozesse in der industriellen Praxis 2025:(2025), 45 - 57
Schriftenreihe (VDI-Berichte: 2464)
ISBN 978-3-18-102464-5
DOI
URL
Verlag Düsseldorf: VDI Wissensforum GmbH
Konferenzangaben 12. VDI-Fachtagung Messunsicherheit und Prüfprozesse 2025, Erfurt, 05, November, 2025, Deutschland
Freie Schlagworte Machine Learning ; Statistical inference ; Laplace approximation ; Bayesian neural networks
Zusammenfassung • Vorstellung des EURAMET-Projekts 24DIT03 (A3SmartML) zur Ressourcen- und Kostenoptimierung hochauflösender, mehrdimensionaler Messungen • Konzept zur Reduzierung langer Mess- und Auswertezeiten durch den Einsatz intelligenter, automatisierter Messstrategien und Machine Learning, welche lokale Unsicherheiten adaptiv berücksichtigen • Kombination von Verfahren des generativen ML mit Methoden des Compressed Sensing und Integration von Ansätzen der Bayes‘schen Statistik und des GUM
Themenbereich der Metrologie Metrologie in der Medizin

Zitierung

Huber, M., Müller, T., Marschall, M., Kästner, B., & Schmitt, R. (2025). Berücksichtigung von Unsicherheiten bei der automatisierten und adaptiven Modellierung von smarten multidimensionalen Messungen mittels Machine Learning. 12. VDI-Fachtagung Messunsicherheit und Prüfprozesse 2025, Erfurt, 05, November, 2025, Deutschland. https://doi.org/10.51202/9783181024645-45

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