ALTECH 2024 – Analytical techniques for precise characterization of nano materials

Boarino, Luca; de Castro, Fernando Araujo; Favres, Georges; Jonas, Adrian; Beckhoff, Burkhard

doi:https://doi.org/10.1002/pssa.202500515

Zugriffsnummer	54971
Dokumenttyp	Zeitschriftenartikel
Peer Review	ohne Peer Review
Sprache	Englisch
Titel	ALTECH 2024 – Analytical techniques for precise characterization of nano materials
Autor(in); Institution	Boarino, Luca; INRIM Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, Torino, ITALY de Castro, Fernando Araujo; NPL, National Physical Laboratory, Teddington, UK Favres, Georges; LNE, Laboratoire National de Metrologie et d'Essais, Trappes, FRANCE Jonas, Adrian; 7.2, Röntgenmesstechnik mit Synchrotronstrahlung, PTB-Berlin Beckhoff, Burkhard; 7.2, Röntgenmesstechnik mit Synchrotronstrahlung, PTB-Berlin
Quelle/Jahr	Special Issue: ALTECH 2024 – Analytical Techniques for Precise Characterization of Nano Materials. Physica Status Solidi A: 222 (2025), 14, 1 - 2
Artikelnummer	2500515
ISSN	0031-8965 (print) ; 1862-6319 (online)
DOI	https://doi.org/10.1002/pssa.202500515
URL	https://onlinelibrary.wiley.com/doi/epdf/10.1002/pssa.202500515
Verlag	Weinheim: Wiley-VCH GmbH

Themenbereich der Metrologie

Photometrie und Radiometrie

Zitierung

Boarino, L., de Castro, F. A., Favres, G., Jonas, A., & Beckhoff, B. (2025). ALTECH 2024 – Analytical techniques for precise characterization of nano materials. Physica Status Solidi A, 222(14), 1–2. https://doi.org/10.1002/pssa.202500515

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