Comb flatness dependence for orthogonally sampled high bandwidth signals

De, Souvaraj; Meier, Janosch; Mandalawi, Younus; Singh, Karanveer; Venugopalan, Abhinand; Yadav, Deepanshu; Das, Ranjan; Meyne, Nora; Baaske, Kai; Kleine-Ostmann, Thomas; Schneider, Thomas

doi:https://doi.org/10.1117/12.3016964

Zugriffsnummer	52402
Dokumenttyp	Konferenzartikel
Peer Review	unbekannt
Sprache	Englisch
Titel	Comb flatness dependence for orthogonally sampled high bandwidth signals
Autor(in); Institution	De, Souvaraj; 2.2, Hochfrequenz und Felder, PTB-Braunschweig Meier, Janosch; Technische Universität Braunschweig, THz-Photonics Group, Braunschweig, GERMANY Mandalawi, Younus; Technische Universität Braunschweig, THz-Photonics Group, Braunschweig, GERMANY Singh, Karanveer; Technische Universität Braunschweig, THz-Photonics Group, Braunschweig, GERMANY Venugopalan, Abhinand; Technische Universität Braunschweig, THz-Photonics Group, Braunschweig, GERMANY Yadav, Deepanshu; Technische Universität Braunschweig, THz-Photonics Group, Braunschweig, GERMANY Das, Ranjan; Technische Universität Braunschweig, THz-Photonics Group, Braunschweig, GERMANY Meyne, Nora; 2.2, Hochfrequenz und Felder, PTB-Braunschweig Baaske, Kai; 2.2, Hochfrequenz und Felder, PTB-Braunschweig Kleine-Ostmann, Thomas; 2.2, Hochfrequenz und Felder, PTB-Braunschweig Schneider, Thomas; Technische Universität Braunschweig, THz-Photonics Group, Braunschweig, GERMANY
Quelle/Jahr	Terahertz Photonics III:(2024), 1 - 6
Artikelnummer	1299407
Schriftenreihe	Proceedings of SPIE: 12994
DOI	https://doi.org/10.1117/12.3016964
Verlag	Bellingham, Wash.: SPIE
Konferenzangaben	SPIE Photonics Europe 2024, Strasbourg, 08-12, April, 2024, France
Freie Schlagworte	Terahertz photonics ; Nyquist pulses ; optical sampling ; Mach-Zehnder modulators
Zusammenfassung	This work discusses simulation results for signal deteriorations arising from a higher carrier in a 3-line optical frequency comb based high bandwidth sampling system in terms of the key performance indicators such as root-mean-square error (RMSE), signal-to-noise and distortion ratio (SINAD), and the effective number of bits (ENOB).

Themenbereich der Metrologie

Elektrizität und Magnetismus

Zitierung

De, S., Meier, J., Mandalawi, Y., Singh, K., Venugopalan, A., Yadav, D., Das, R., Meyne, N., Baaske, K., Kleine-Ostmann, T., & Schneider, T. (2024). Comb flatness dependence for orthogonally sampled high bandwidth signals. SPIE Photonics Europe 2024, Strasbourg, 08-12, April, 2024, France. https://doi.org/10.1117/12.3016964

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