| Zugriffsnummer | 52173 |
| Dokumenttyp | Bericht |
| Peer Review | unbekannt |
| Sprache | Deutsch |
| Titel | Bestimmung der Form der Elementarzelle eines hochreinen Silicium-Einkristalls durch genaue Messungen von Netzebenenabständen |
| Autor(in); Institution |
Siegert, Helmut; 6.23, Röntgenspektroskopie, PTB-Braunschweig
Becker, Peter; PTB-Braunschweig
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| Quelle/Jahr | (1984), 35 S. |
| Schriftenreihe | PTB-Bericht PTB-APh-21 |
| Herausgeber(in) |
Physikalisch-Technische Bundesanstalt
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| ISSN | 0341-6690 (print) |
| Berichtsnummer | PTB-APh-21 |
| Verlag | Braunschweig [u.a.]: Physikalisch-Technische Bundesanstalt |
| Zusammenfassung | Formdaten der Elementarzelle eines Silicium-Einkristalls - Verfahren des Präzisionsvergleiches von Netzebenenabständen - Meßergebnisse - Herstellung der Meßproben-Ermittlung der Verzerrungsparameter. |
