Overcome the limit of depth measurement: Polymer thickness determination down to ˜10 nm using confocal Raman microscopy [poster]

Wang, Zunhao; Wundrack, Stefan; Grotkopp, Nico; Garnweitner, Georg; Stosch, Rainer

Zugriffsnummer	51538
Dokumenttyp	Konferenzartikel
Peer Review	unbekannt
Sprache	Englisch
Titel	Overcome the limit of depth measurement: Polymer thickness determination down to ˜10 nm using confocal Raman microscopy [poster]
Autor(in); Institution	Wang, Zunhao; 3.1, Allgemeine und Anorganische Chemie, PTB-Braunschweig Wundrack, Stefan; 3.1, Allgemeine und Anorganische Chemie, PTB-Braunschweig Grotkopp, Nico; Technische Universität Braunschweig, Fakultät für Maschinenbau, Institut für Partikeltechnik (iPAT), LENA, GERMANY Garnweitner, Georg; Technische Universität Braunschweig, Fakultät für Maschinenbau, Institut für Partikeltechnik (iPAT), LENA, GERMANY Stosch, Rainer; 3.1, Allgemeine und Anorganische Chemie, PTB-Braunschweig
Quelle/Jahr	NanoScale 2023: Dimensional and related measurements in the micro- and nanometre range:(2023), 285 - 286
Artikelnummer	P-82
Konferenzangaben	Nanoscale 2023, Helsinki, 10-12, October, 2023, Finland

Zitierung

Wang, Z., Wundrack, S., Grotkopp, N., Garnweitner, G., & Stosch, R. (2023). Overcome the limit of depth measurement: Polymer thickness determination down to ˜10 nm using confocal Raman microscopy [poster]. Nanoscale 2023, Helsinki, 10-12, October, 2023, Finland.

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