Zugriffsnummer 49779
Dokumenttyp Konferenzartikel in Zeitschrift Open Access Gold
Peer Review mit Peer Review
Sprache Englisch
Titel Nanoform evaluation approach using Mueller matrix microscopy and machine learning concepts
Autor(in); Institution
Käseberg, Tim; 4.2, Bild- und Wellenoptik, PTB-Braunschweig
Grundmann, Jana; 4.2, Bild- und Wellenoptik, PTB-Braunschweig
Kroker, Stefanie; 4.01, Metrologie für funktionale Nanosysteme, PTB-Braunschweig; Technische Universität Braunschweig, Institut für Halbleitertechnik, Laboratory for Emerging Nanometrology, Braunschweig, GERMANY
Bodermann, Bernd; 4.2, Bild- und Wellenoptik, PTB-Braunschweig
Quelle/Jahr EPJ Web of Conferences: 266 (2022), 2 S.
Artikelnummer 10007
Availability [online only]
ISSN 2100-014X (online)
DOI
Verlag Les Ulis: EDP Sciences
Konferenzangaben The European Optical Society Annual Meeting (EOSAM2022), Porto, 12-16, September, 2022, Portugal
Zusammenfassung We realized a Mueller matrix microscope for nanostructure characterization. For investigations on nanoform characterization via Mueller matrix images, we measured and simulated Mueller matrix images of specially designed nanostructures. As an approach towards machine learning evaluation in imaging ellipsometry, we calculated Haar-like features of the images and observed a higher sensitivity to subwavelength features in off-diagonal matrix elements compared to microscopy.
Kostenfreier Zugang Open Access Gold
Rechteinformation CC BY 4.0 ; Creative Commons Attribution 4.0 License
Themenbereich der Metrologie Nanometrologie
Forschungsprojekt 20FUN02: POLight: Pushing boundaries of nano-dimensional metrology by light
Förderinformationen (1) Förderername: European Commission (EC)
Förderer ID: 0000 0001 2242 8989
Förderer ID Typ: ISNI
Förderprogramm: EMPIR 2020 Fundamental
Titel der Förderung: 20FUN02: POLight: Pushing boundaries of nano-dimensional metrology by light
Förderungsnummer: 20FUN02
URI der Förderung: https://www.ptb.de/empir2021/polight/home/

Zitierung

Käseberg, T., Grundmann, J., Kroker, S., & Bodermann, B. (2022). Nanoform evaluation approach using Mueller matrix microscopy and machine learning concepts. EPJ Web of Conferences, 266, 2 S. https://doi.org/10.1051/epjconf/202226610007

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