| Datensatz noch nicht abgeschlossen | |
| Zugriffsnummer | 49186 |
| Dokumenttyp | Konferenzartikel |
| Peer Review | unbekannt |
| Sprache | Englisch |
| Titel | An optoelectronic probe for scanning near-field opto electronic microscopy |
| Autor(in); Institution |
Danzebrink, Hans-Ulrich; 5.11, Maßteilungen, PTB-Braunschweig
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| Quelle/Jahr | 3. International IMEKO-Symposium on Laser Metrology for Precision Measurement and Inspection in Industry, Heidelberg, 21.-22. März 1994:(1994), 141 - 146 |
| Schriftenreihe | VDI-Berichte: 1118 |
| Herausgeber(in) |
Pfeifer, T.
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| ISSN | 0083-5560 (PRINT) |
| ISBN | 3-18-091118-2 (PRINT) |
| Verlag | Düsseldorf: VDI-Verlag |
| Konferenzangaben | 3. International IMEKO-Symposium on Laser Metrology for Precision Measurement and Inspection in Industry, Heidelberg, 21-22, März, 1994, Deutschland |
