Zugriffsnummer 46128
Dokumenttyp Zeitschriftenartikel
Peer Review unbekannt
Sprache Deutsch
Titel Die Eignung rauscharmer Silizium-Photoelemente für eine präzise Strahlungsthermometrie im Bereich von 419 °C bis 1064 °C
Autor(in); Institution
Jung, H.-J.; 9.21, Hochtemperaturphysik, PTB-Berlin
Quelle/Jahr PTB-Mitteilungen: 86 (1976), 5, 326 - 331
ISSN 0030-834X (PRINT)
Verlag Braunschweig: Vieweg
Zusammenfassung Für genaue strahlungsthermometrische Messungen bei Wellenlängen nahe unterhalb 1 μm zur Bestimmung thermodynamischer Temperaturen zwischen Zinkpunkt (419 °C) und Goldpunkt (1064 °C) eignen sich gewisse rauscharme Silicium-Photoelemente. Dies ergibt sich nach Messungen des Dunkelstroms, der Temperaturabhängigkeit und Stabilität des Photostroms, des Rauschens und der Nichtlinearität an einem PIN-Detektor (0,8 mm2) in Verbindung mit einem geeigneten elektrometrischen Vorverstärker. Die unter angegebenen optischen Bedingungen berechnet und in einem Modellversuch gemessene strahlungsthermometrische Auflösung unterschreitet ± 10 mK am Zinkpunkt und ± mK am aluminiumpunkt (660 °C). Die durch Nichtlinearität verursachte Unsicherheit würde ± 18 mK am Aluminiumpunkt (mit dem Silberpunkt als Referenz) betragen und lieferte damit zur Zeit noch den größten Beitrag zu der mit der Photostrommessung verknüpften systematischen Unsicherheit.

Zitierung

Jung, H.-J. (1976). Die Eignung rauscharmer Silizium-Photoelemente für eine präzise Strahlungsthermometrie im Bereich von 419 °C bis 1064 °C. PTB-Mitteilungen, 86(5), 326–331.

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