| Zugriffsnummer | 45673 |
| Dokumenttyp | Konferenzartikel |
| Peer Review | unbekannt |
| Sprache | Englisch |
| Titel | Quantum efficiency and radiation damage of silicon photodiodes in the vicinity of the Si L-absorption edge |
| Autor(in); Institution |
Kühne, Michael; 9.23, Vakuum-UV-Strahlungsmeßtechnik, PTB-Berlin
Tegeler, Erich; 9.23, Vakuum-UV-Strahlungsmeßtechnik, PTB-Berlin
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| Quelle/Jahr | VUV 8, Vacuum Ultraviolet Radiation Physics International Conference : Lund, Sweden, August 4 - 8, 1986 ; abstracts: 1 (1986), 281 - 284 |
| Verlag | Göteborg: Chalmers University of Technology |
| Konferenzangaben | VUV 8, Vacuum Ultraviolet Radiation Physics International Conference, Lund, 4 - 8, August, 1986, Sweden |
