| Datensatz noch nicht abgeschlossen | |
| Zugriffsnummer | 45640 |
| Dokumenttyp | Zeitschriftenartikel |
| Peer Review | unbekannt |
| Sprache | Deutsch |
| Titel | Der Einfluß von Strom- und Spannunsschwankungen, sowie der Energiebreite der Strahlelektronen auf Kontrastübertragung und Auflösung des Elektronenmikroskops |
| Autor(in); Institution |
Hanßen, Karl-Joseph; 6.2, Elektronen-, Ionen- und Röntgenstrahlen, PTB-Braunschweig
Trepte, Lutz; PTB-Braunschweig
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| Quelle/Jahr | Optik: 32 (1971), 6, 519 - 538 |
| ISSN | 0030-4026 (PRINT) ; 1618-1336 (ONLINE) |
| Verlag | Stuttgart: Wiss. Verl.-Ges. |
| Zusammenfassung | Die im Titel genannten Einflußgrößen engen die Kontrastübertragungsfunktion durch eine Enveloppe ein. Diese bestimmt über den Farbfehler des Objektivs die praktische Auflösungsgrenze, wenn Öffnungsfehler und Defokussierungseinfluß in der elektronenmikroskopischen Abbildung durch Rekonstruktion beseitigt sind. |
