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Zugriffsnummer 45205
Dokumenttyp Konferenzartikel
Peer Review unbekannt
Sprache Englisch
Titel Electron microscopy investigation of single and multiple layers
Autor(in); Institution
Lauer, R.
Hinze, P.
Ade, G.
Dierksen, U.
Schiffmann, K.
Salditt, T.
Pierz, K.
Quelle/Jahr Proceedings of the 11th European Congress on Electron Microscopy, 26-30 August 1996, Dublin:(1996)
Availability [CD-ROM]
Verlag Dublin: UCD
Konferenzangaben European Congress on Electron Microscopy (EUREM), Dublin, 26-30, August, 1996, Ireland

Zitierung

Lauer, R., Hinze, P., Ade, G., Dierksen, U., Schiffmann, K., Salditt, T., & Pierz, K. (1996). Electron microscopy investigation of single and multiple layers. European Congress on Electron Microscopy (EUREM), Dublin, 26-30, August, 1996, Ireland.

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