Zugriffsnummer 43940
Dokumenttyp Dissertation
Peer Review unbekannt
Sprache Englisch
Titel Multimethod metrology of multilayer mirrors using EUV and X-Ray radiation
Autor(in); Institution
Haase, Anton; 7.1, Radiometrie mit Synchrotronstrahlung, PTB-Berlin
Quelle/Jahr (2017), xiii, 137 S.
Dissertationsvermerk Dissertation, Technische Universität Berlin, 2017
DOI
Verlag Berlin:

Zitierung

Haase, A. (2017). Multimethod metrology of multilayer mirrors using EUV and X-Ray radiation [Dissertation, Technische Universität Berlin, 2017]. http://doi.org/10.14279/depositonce-6428

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