| Zugriffsnummer | 43016 |
| Dokumenttyp | Konferenzartikel |
| Peer Review | unbekannt |
| Sprache | Englisch |
| Titel | Characteristics and applications of semiconductor photodiodes from the visible to the X-ray region |
| Autor(in); Institution |
Barth, J.; Max-Planck-Institut fur Festkörperforschung, Stuttgart, GERMANY
Tegeler, Erich; 9.23, Vakuum-UV-Strahlungsmeßtechnik, PTB-Berlin
Krisch, M.; Universität Hamburg, II. Institut für Experimentalphysik, Hamburg, GERMANY
Wolf, R.; Universität Hamburg, II. Institut für Experimentalphysik, Hamburg, GERMANY
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| Quelle/Jahr | Soft X-ray optics and technology:(1987), 481 - 485 |
| Schriftenreihe | Proceedings of SPIE: 733 |
| ISBN | 0-89252-768-4 |
| DOI | |
| Verlag | Bellingham, Wash.: SPIE |
| Konferenzangaben | Soft X-ray optics and technology, Berlin, 08-11, December, 1986, Germany |
