| Zugriffsnummer | 42877 |
| Dokumenttyp | Konferenzartikel |
| Peer Review | unbekannt |
| Sprache | Englisch |
| Titel | X-Ray measurements for the determination of extension and divergence of electron beams in storage rings |
| Autor(in); Institution |
Riehle, Fritz; 4.31, Längeneinheit, PTB-Braunschweig
Tegeler, Erich; 9.23, Vakuum-UV-Strahlungsmeßtechnik, PTB-Berlin
Wende, Burkhard; 9.2, Hochtemperatur- und Vakuumphysik, PTB-Berlin
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| Quelle/Jahr | Soft X-ray optics and technology:(1987), 80 - 85 |
| Schriftenreihe | Proceedings of SPIE: 733 |
| ISBN | 0-89252-768-4 |
| DOI | |
| Verlag | Bellingham, Wash.: SPIE |
| Konferenzangaben | Soft X-ray optics and technology, Berlin, 08-11, December, 1986, Germany |
