| Zugriffsnummer | 39807 |
| Dokumenttyp | Konferenzartikel |
| Sprache | Deutsch |
| Titel | Messunsicherheitsabschätzungen für komplexe Nanosysteme |
| Autor(in); Institution |
Hampel, B.; TU Braunschweig, Braunschweig, GERMANY
Liu, B.; TU Braunschweig, Braunschweig, GERMANY
Nording, F.; TU Braunschweig, Braunschweig, GERMANY
Ostermann, Johannes; 5.2, Dimensionelle Nanometrologie, PTB-Braunschweig
Struszewski, Paul; 2.5, Halbleiterphysik und Magnetismus, PTB-Braunschweig
Langfahl-Klabes, Jannick; 5.1, Oberflächenmesstechnik, PTB-Braunschweig
Bieler, Mark; 2.5, Halbleiterphysik und Magnetismus, PTB-Braunschweig
Bosse, Harald; 5, Fertigungsmesstechnik, PTB-Braunschweig
Güttler, Bernd; 3, Chemische Physik und Explosionsschutz, PTB-Braunschweig
Lemmens, P.; TU Braunschweig, Braunschweig, GERMANY
Schilling, M.; TU Braunschweig, Braunschweig, GERMANY
Tutsch, R.; TU Braunschweig, Braunschweig, GERMANY
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| Quelle/Jahr | Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen und Prüfprozesse in der industriellen Praxis:(2017), 3 - 6 |
| Schriftenreihe | VDI-Berichte: 2319 |
| ISBN | 978-3-18-092319-2 |
| Verlag | Düsseldorf: VDI Verlag GmbH |
| Konferenzangaben | 8. VDI-Fachtagung Messunsicherheit 2017 Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen, Erfurt, 15-16, November, 2017, Deutschland |
| Zusammenfassung | Die Abschätzung der Messunsicherheit komplexer Nanosysteme stellt oftmals eine besondere Herausforderung dar, insbesondere bei Systemen mit einer großen Zahl an Freiheitsgraden. In vielen Fäller lassen sich dennoch Abschätzungen der Messunsicherheit durchführen. Eine Strategie ist die Zerlegung des Systems in unabhängige Subsysteme. |
Zitierung
Hampel, B., Liu, B., Nording, F., Ostermann, J., Struszewski, P., Langfahl-Klabes, J., Bieler, M., Bosse, H., Güttler, B., Lemmens, P., Schilling, M., & Tutsch, R. (2017). Messunsicherheitsabschätzungen für komplexe Nanosysteme. 8. VDI-Fachtagung Messunsicherheit 2017 Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen, Erfurt, 15-16, November, 2017, Deutschland.