| Zugriffsnummer | 39714 |
| Dokumenttyp | Konferenzartikel |
| Sprache | Deutsch |
| Titel | Aktuelle Herausforderungen bei der metrologischen Rückführbarkeit dimensioneller Messgrößen |
| Übersetzungstitel | Current challenges in metrological traceability of dimensional measurands |
| Autor(in); Institution |
Kniel, Karin; 5.3, Koordinatenmesstechnik, PTB-Braunschweig
Flügge, Jens; 5.2, Dimensionelle Nanometrologie, PTB-Braunschweig
Bosse, Harald; 5, Fertigungsmesstechnik, PTB-Braunschweig
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| Quelle/Jahr | Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen und Prüfprozesse in der industriellen Praxis:(2017), 355 - 358 |
| Schriftenreihe | VDI-Berichte: 2319 |
| ISBN | 978-3-18-092319-2 |
| Verlag | Düsseldorf: VDI-Verlag |
| Konferenzangaben | 3. VDI-Fachtagung Prüfprozesse in der industriellen Praxis, Erfurt, 15-16, November, 2017, Deutschland |
| Freie Schlagworte | Rückführbarkeit ; dimensioneller Messgrößen ; industriellen CT ; komplexer Bauteil-Geometrien ; Characterisierung von Nanostrukturen |
| Zusammenfassung | Es wird über aktuelle Herausforderungen zur metrologischen Rückführbarkeit dimensioneller Messgrößen und hierfür eingesetzter Messmethoden berichtet, bei denen es bislang (noch) kein geeigneten Normale für die Realisierung einer klassischen Rückführbarkeitskette gibt. Es werden Beispiele aus dem Bereich der industriellen CT (Computed Tomography), der Messung komplexer Bauteil-Geometrien, sowie der Charakterisierung von Nanostrukturen diskutiert. |
