Zugriffsnummer 35347
Dokumenttyp Konferenzartikel
Peer Review unbekannt
Sprache Deutsch
Titel Charakterisierung von Hochtemperatur-Supraleiterkomponenten mit Hilfe der Raman-Spektrometrie
Autor(in); Institution
Ohl, Rainer; 1.202, Einführung von RBEZ, PTB-Braunschweig
Grottker, Ulrich; 1.201, Grundlagen und Werkzeuge für Software- und Schnittstellenprüfung im gesetzlichen Meßwesen, PTB-Braunschweig
Quelle/Jahr Festkörperanalytik: Vorträge des 132. PTB-Seminars:(1997), 24 - 35
Schriftenreihe PTB-Bericht PTB-ThEx-3
Herausgeber(in)
Jährling, Reinhard; 3.22, Chemisch-Analytische Dienste, PTB-Braunschweig
Schiel, Detlef; 3.22, Chemisch-Analytische Dienste, PTB-Braunschweig
ISSN 1434-2391
ISBN 3-89701-089-5
Berichtsnummer PTB-ThEx-3
Verlag Bremerhaven: Wirtschaftsverl. NW, Verl. für neue Wissenschaft
Konferenzangaben 132. PTB-Seminar ; PTB-Seminar "Festkörperanalytik", Braunschweig, 03-05, Juni, 1996, Deutschland

Zitierung

Ohl, R. & Grottker, U. (1997). Charakterisierung von Hochtemperatur-Supraleiterkomponenten mit Hilfe der Raman-Spektrometrie. 132. PTB-Seminar ; PTB-Seminar "Festkörperanalytik", Braunschweig, 03-05, Juni, 1996, Deutschland.

Exportieren

PTB-Publica Menü

Sprache wechseln: uk flag