Zugriffsnummer 33523
Dokumenttyp Konferenzartikel
Sprache Englisch
Titel Profilometry using a diode laser interferometer with wavelength modulation and lock-in technique
Autor(in); Institution
Abou-Zeid, Ahmed; 5.23, Längenmessmaschinen und -messmittel, PTB-Braunschweig
Löbau, Jörg; 5.23, Längenmessmaschinen und -messmittel, PTB-Braunschweig
Wiese, Peter; 5.23, Längenmessmaschinen und -messmittel, PTB-Braunschweig
Quelle/Jahr Metrology for quality control in production : proceedings ; Sept. 8 - 10, 1998, Vienna, Austria:(1998), 775 - 780
Herausgeber(in)
Osanna, P. H.
ISBN 3-901888-02-0
Verlag Wien: TU Wien, Abt. Austauschbau und Messtechnik
Konferenzangaben 6th ISMQC IMEKO Symposium Wien, Vienna, 08-10, September, 1998, Austria
Freie Schlagworte profilometry ; interferometry ; diode lasers

Zitierung

Abou-Zeid, A., Löbau, J., & Wiese, P. (1998). Profilometry using a diode laser interferometer with wavelength modulation and lock-in technique. 6th ISMQC IMEKO Symposium Wien, Vienna, 08-10, September, 1998, Austria.

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