| Zugriffsnummer | 30237 |
| Dokumenttyp | Konferenzartikel |
| Sprache | Deutsch |
| Titel | Mathematische Einpassverfahren zur Charakterisierung von Formelementen : Gauß, Tschebyschow, L1: Gemeinsamkeiten und Unterschiede |
| Autor(in); Institution |
Groh, Andreas; Hexagon Metrology PTS, Algorithmen- und Softwareentwicklung, Wetzlar, GERMANY
Krystek, Michael; 5, Fertigungsmesstechnik, PTB-Braunschweig
Seewig, Jörg; TU Kaiserslautern, Lehrstuhl für Messtechnik und Sensorik, Kaiserslautern, GERMANY
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| Quelle/Jahr | 5. VDI/VDE-Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013 : normgerechte Auswertung, Charakterisierung und Tolerierung von Rauheit und Mikroformelementen:(2013), 21 - 31 |
| Schriftenreihe | VDI-Berichte: 2194 |
| ISBN | 978-3-18-092194-5 |
| Verlag | Düsseldorf: VDI-Verlag |
| Konferenzangaben | 5. Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik, Nürtingen, 23-24, Oktober, 2013, Deutschland |
| Zusammenfassung | Zur Einpassung von Referenz-Geometrieelementen an Messdaten gibt es mehrere Methoden. Die bekanntesten sind sicher "Gauß" und "Tschebyschow", aber auch das andere l1-Kriterium findet zunehmend Anwendung in der Metrologie. Zunächst werden die wesentlichen Ideen bei allgemeinen Einpassungsaufgaben erklärt, anschließend richtet sich der Fokus auf die drei genannten Ansätze. An einfachen Beispielen werden Gemeinsamkeiten und Unterschiede erläutert und erklärt. |
Zitierung
Groh, A., Krystek, M., & Seewig, J. (2013). Mathematische Einpassverfahren zur Charakterisierung von Formelementen : Gauß, Tschebyschow, L1: Gemeinsamkeiten und Unterschiede. 5. Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik, Nürtingen, 23-24, Oktober, 2013, Deutschland.