| Zugriffsnummer | 30108 |
| Dokumenttyp | Konferenzartikel |
| Sprache | Deutsch |
| Titel | Messen rauer Oberflächen- optisch und taktil vergleichbar |
| Autor(in); Institution |
Krüger-Sehm, Rolf; 5.1, Oberflächenmesstechnik, PTB-Braunschweig
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| Quelle/Jahr | 5. VDI/VDE-Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013 : normgerechte Auswertung, Charakterisierung und Tolerierung von Rauheit und Mikroformelementen:(2013), 199 - 205 |
| Schriftenreihe | VDI-Berichte: 2194 |
| ISBN | 978-3-18-092194-5 |
| Verlag | Düsseldorf: VDI-Verl. |
| Konferenzangaben | 5. Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik, Nürtingen, 23-24, Oktober, 2013, Deutschland |
| Freie Schlagworte | Optische Oberflächenmesstechnik ; Taktile Oberflächenmesstechnik ; Messunsicherheits-Einflussgrößen ; Metrologische Rückführung |
| Zusammenfassung | In diesem Beitrag soll verdeutlicht werden, dass die Beschreibung der Oberflächentopographie mit dem bisher weit verbreiteten Modell der räumlichen Wellenlängen nur unzureichend geeignet ist, Merkmale und Unterschiede zwischen optischer und mechanische Messung zu beschreiben. Steigung und Krümmung von Oberflächen helfen, Einflussgrößen zu beschreiben, die sich auf die metrologischen Merkmale von Oberflächenmessgeräten auswirken. |
