| Zugriffsnummer | 26795 |
| Dokumenttyp | Konferenzartikel |
| Peer Review | unbekannt |
| Sprache | Deutsch |
| Titel | Rückgeführte Größenmessung von Nanopartikeln im Transmissionsmodus eines Rasterelektronenmikroskops (TSEM) |
| Autor(in); Institution |
Klein, Tobias; 4.2, Bild- und Wellenoptik, PTB-Braunschweig
Buhr, Egbert; 4.2, Bild- und Wellenoptik, PTB-Braunschweig
Johnsen, Klaus-Peter; 5.2, Dimensionelle Nanometrologie, PTB-Braunschweig
Frase, Carl Georg; 5.2, Dimensionelle Nanometrologie, PTB-Braunschweig
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| Quelle/Jahr | XXV. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik e. V. : Tagungsband:(2011), 227 - 239 |
| Herausgeber(in) |
Puente León, Fernando
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| ISBN | 978-3-8440-0388-8 |
| Verlag | Aachen: Shaker |
| Konferenzangaben | 25. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik, Karlsruhe, 22-24, September, 2011, Deutschland |
| Zusammenfassung | Es wird ein neues elektronenmikroskopisches Verfahren zur rückgeführten Größenmessung von Nanopartikeln beschrieben, bei dem ein Transmissionsdetektor in einem Rasterelektronenmikroskop genutzt wird (TSEM, Transmission Scanning Electron Microscopy). Im Zuge der Bildauswertung werden mit Hilfe eines Simulations-Modells der TSEM-Abbildung der Rand und die Größe jedes einzelnen Partikels individuell bestimmt. Die Simulation basiert auf grundlegenden Streutheorien für Elektronen unter Beachtung der Eigenschaftten des Partikels und des Mikroskops. Die Partikelgrößenverteilung wird durch die automatisierte Auswertung einer Serie von TSEM-Aufnahmen bestimmt, die insgesamt tausende Partikel zeigt. Nanopartikel-Proben aus drei verschiedenen Materialklassen (Gold, Silber, Latex) im Größenbereich 5 nm und 60 nm werden exemplarisch untersucht. Eine Unsicherheitsbetrachtung zeigt erweiterte Unsicherheiten für die mittlere Partikelgröße im Bereich zwischen 1 nm und 3 nm. |
Zitierung
Klein, T., Buhr, E., Johnsen, K.-P., & Frase, C. G. (2011). Rückgeführte Größenmessung von Nanopartikeln im Transmissionsmodus eines Rasterelektronenmikroskops (TSEM). 25. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik, Karlsruhe, 22-24, September, 2011, Deutschland.