Zugriffsnummer 24271
Dokumenttyp Konferenzartikel
Sprache Englisch
Titel The impact of globalization on today's metrology
Autor(in); Institution
Bachmair, Hans; 2, Elektrizität, PTB-Braunschweig
Quelle/Jahr Metrocal 2001 : metrologia para la calidad y productividad ; II. Congreso Chileno e Internacional de Metrologia:(2001)
Availability [CD-ROM] ; file name: Bachmair_impact of glob.pdf
Herausgeber(in)
CHILMET
Konferenzangaben Metrocal 2001, II. Congreso Chileno e Internacional de Metrologia, Concepción, 25-27, April, 2001, Chile

Zitierung

Bachmair, H. (2001). The impact of globalization on today's metrology. Metrocal 2001, II. Congreso Chileno e Internacional de Metrologia, Concepción, 25-27, April, 2001, Chile.

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