| Zugriffsnummer | 22253 |
| Dokumenttyp | Konferenzartikel |
| Sprache | Deutsch |
| Titel | Einfluss von Signal-zu-Rauschverhältnis und Binning auf die Formmesseigenschaft eines CT-Messsystems - Vergleich von Messergebnissen und Simulationen |
| Autor(in); Institution |
Hilpert, Uwe; 5.3, Koordinatenmesstechnik, PTB-Braunschweig
Bartscher, Markus; 5.3, Koordinatenmesstechnik, PTB-Braunschweig
Bellon, Carsten; Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), Berlin, GERMANY
Jaenisch, Gerd-Rüdiger; Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), Berlin, GERMANY
Staude, Andreas; Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), Berlin, GERMANY
Goebbels, Jürgen; Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), Berlin, GERMANY
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| Quelle/Jahr | ZfP in Forschung, Entwicklung und Anwendung:(2008), 8 S. |
| Schriftenreihe | DGZfP-Berichtsband, BB: 113 |
| Availability | [CD-ROM] ; file name: p11.pdf |
| ISBN | 978-3-940283-09-2 |
| Verlag | Berlin: DGZfP |
| Konferenzangaben | DACH-Jahrestagung, St. Gallen, 28-30, April, 2008, Switzerland |
| Freie Schlagworte | Industrielle Computertomographie ; CT-Simulation ; Signal-Rauschverhältnis ; Binning |
| Zusammenfassung | Industrielle Computertomographie (CT) mit Röntgenstrahlung ermöglicht die vollständige und zerstörungsfreie Erfassung von inneren und äußeren Oberflächen mit sehr hoher Messpunktdichte und damit die Geometriebestimmung technischer Objekte. Die Analyse der komplexen Einflussgrößen stellt dabei jedoch eine Herausforderung dar. Simulationen des Messprozesses bieten hier einen viel versprechenden Ansatz. Eine Simulation des Messprozesses ist besonders dann vorteilhaft, wenn es kein geschlossenes Modell des Gesamtprozesses gibt, aber Teilmodelle der Einzelmessprozesse existieren. Das Fehlen eines Modells des Gesamtmessprozesses bedeutet u.a., dass es kein geschlossenes Messunsicherheitsbudget mit allen Einflussgrößen gibt. Die Simulation kann hier helfen, in GUM konformer Weise Messunsicherheiten auch bei komplexen Messprozessen anzugeben. Auch in den Fällen, wie aktuell bei der CT, bei denen die Simulation aller Schritte in einer Messkette noch nicht quantitativ genau genug ist, um belastbare Messunsicherheiten angeben zu können, kann die Simulation schon sinnvoll genutzt werden, um prinzipielle Effekte und Abhängigkeiten zu untersuchen. Zusätzlich bietet die Simulation auch aktuell schon wirtschaftliche Vorteile, wenn sich Messaufgaben häufig ändern. In diesem Betrag wird gezeigt, dass es durch Simulation möglich ist, Messparameter für ein gegebenes Messobjekt zu optimieren. Hierzu wird in Analogie zu bestehenden Richtlinien der taktilen und optischen Koordinatenmesstechnik (Reihe ISO 10360 und VDI/VDE 2617) die Kenngröße PF für die Antastabweichung Form verwendet. Es zeigt sich, dass insbesondere der Einfluss des Signal-Rausch-Verhältnisses und des Binnings, die Zusammenfassung von mehren Voxel zu einem effektiven Voxel, konkurrierende Parameter für eine Optimierung der Formmesseigenschaft eines CT-Systems sind. |
Zitierung
Hilpert, U., Bartscher, M., Bellon, C., Jaenisch, G.-R., Staude, A., & Goebbels, J. (2008). Einfluss von Signal-zu-Rauschverhältnis und Binning auf die Formmesseigenschaft eines CT-Messsystems - Vergleich von Messergebnissen und Simulationen. DACH-Jahrestagung, St. Gallen, 28-30, April, 2008, Switzerland.