Zugriffsnummer 22191
Dokumenttyp Dissertation
Peer Review unbekannt
Sprache Englisch
Titel Optical characterization of Ge- and InGaAs-semiconductor detectors for high accuracy optical radiant power measurements in the near infrared
Autor(in); Institution
López Ordonez, Marco Antonio; 4.1, Photometrie und angewandte Radiometrie, PTB-Braunschweig
Quelle/Jahr (2008), 119 S.
Dissertationsvermerk Dissertation, Technische Universität Braunschweig, 2008
URL

Zitierung

López Ordonez, M. A. (2008). Optical characterization of Ge- and InGaAs-semiconductor detectors for high accuracy optical radiant power measurements in the near infrared [Dissertation, Technische Universität Braunschweig, 2008].

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