| Zugriffsnummer | 22020 |
| Dokumenttyp | Zeitschriftenartikel |
| Sprache | Deutsch |
| Titel | Kraftmessung von Mega- bis Nanonewton |
| Autor(in); Institution |
Kumme, Rolf; 1.2, Festkörpermechanik, PTB-Braunschweig
Illemann, Jens; 6.2, Dosimetrie für die Strahlentherapie, PTB-Braunschweig
Nesterov, Vladimir; 5.1, Nano- und Mikrometrologie, PTB-Braunschweig
Brand, Uwe; 5.1, Nano- und Mikrometrologie, PTB-Braunschweig
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| Quelle/Jahr | PTB-Mitteilungen: 118 (2008), 3, 143 - 151 |
| ISSN | 0030-834X |
| DOI | |
| Verlag | Bremerhaven: Wirtschaftsverl. NW |
| Zusammenfassung | Bei zahlreichen Anwendungen in der Forschung und in der Industrie ist die Messung von Kräften erforderlich, die auf die nationalen Normale in der PTB rückgeführt sind. Thema dieses Beitrags ist die Messung statischer Kräfte - dynamische Kräfte werden im Beitrag "Dynamische Kalibrierung von Kraftaufnehmern" (dieses Heft) behandelt. Während in der Vergangenheit hauptsächlich die Rückführung für Kräfte größer 1 Newton gefordert wurde, entsteht zunehmend der Bedarf nach der Rückführung für kleinere Kräfte im Milli-, Mikro- und Nanonewtonbereich. Der vorliegende Beitrag gibt zunächst einen Überblick über die klassischen Anwendungen der Kraftmessung und die Prinzipien der Kraft-Normalmesseinrichtungen der PTB, mit denen der Messbereich von 1 N bis 16,5 MN abgedeckt wird. Um der Nachfrage nach der Rückführung für kleinere Kräfte bis in den nN-Bereich gerecht zu werden, wurden und werden derzeit neue Messeinrichtungen entwickelt, die im Anschluss in einem Abschnitt über den mN-Bereich und einem Abschnitt über den nN-Bereich beschrieben werden. Die Anwendungen für diese kleinen Kräfte werden in den entsprechenden Abschnitten erläutert. Zusammenfassung und Ausblick Dieser Beitrag beschreibt den aktuellen Stand der Messung statischer Kräfte in der PTB (zu dynamischen Kräften siehe "Dynamische Kalibrierung von Kraftaufnehmern", dieses Heft). Die Kraft-Normalmesseinrichtungen decken derzeit den Kraftbereich von 1 N bis 16,5 MN ab und dank der Entwicklung einer neuen Messeinrichtung für den mN-Bereich werden die Normale zukünftig auf 1 mN erweitert. Neue, in der Entwicklung befindliche Messeinrichtungen reichen bis in den nN-Bereich und versprechen zukünftig messtechnische Untersuchungen in Bereichen der Nanotechnologie. |
