Zugriffsnummer 19392
Dokumenttyp Konferenzartikel
Sprache Englisch
Titel Oxide layer characterisation of a 28Si sphere for the International Avogadro Project
Autor(in); Institution
Busch, Ingo; 5.1, Nano- und Mikrometrologie, PTB-Braunschweig
Krumrey, Michael; 7.1, Photonenradiometrie, PTB-Berlin
Stümpel, Jürgen; 5.1, Nano- und Mikrometrologie, PTB-Braunschweig
Bettin, Horst; 3.3, Chemisch-physikalische Stoffeigenschaften, PTB-Braunschweig
Kolbe, Michael; 7.1, Photonenradiometrie, PTB-Berlin
Beckhoff, Burkhard; 7.1, Photonenradiometrie, PTB-Berlin
Danzebrink, Hans-Ulrich; 5.1, Nano- und Mikrometrologie, PTB-Braunschweig
Becker, Peter; 4.3, Quantenoptik und Längeneinheit, PTB-Braunschweig
Quelle/Jahr 2006 Conference on Precision Electromagnetic Measurements digest:(2006), 88 - 89 [print ed. and CD-ROM]
Herausgeber(in)
Levi, Filippo; Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica (INRIM), Torino, ITALY
ISBN 88-7992-228-9
Verlag Torino: Ed. CLUT
Konferenzangaben Conference on Precision Electromagnetic Measurements CPEM 2006, Torino, 9-14, July, 2006, Italy
Zusammenfassung For a new determination of the Avogadro constant using a 5 kg isotopically enriched silicon-single crystal, a sphere is used to measure the density of the crystal. The characterisation of the oxide layer on the sphere in order to determine the oxide mass is one of the critical tasks in the project.

Zitierung

Busch, I., Krumrey, M., Stümpel, J., Bettin, H., Kolbe, M., Beckhoff, B., Danzebrink, H.-U., & Becker, P. (2006). Oxide layer characterisation of a ²⁸Si sphere for the International Avogadro Project. Conference on Precision Electromagnetic Measurements CPEM 2006, Torino, 9-14, July, 2006, Italy.

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