| Zugriffsnummer | 19071 |
| Dokumenttyp | Konferenzartikel |
| Sprache | Englisch |
| Titel | Combined optical and magnetic force microscopy |
| Autor(in); Institution |
Sievers, Sibylle; 2.5, Halbleiterphysik und Magnetismus, PTB-Braunschweig
Dreyer, Sebastian; Universität Göttingen, Institut für Materialphysik, Göttingen, GERMANY
Albrecht, Martin; 2.5, Halbleiterphysik und Magnetismus, PTB-Braunschweig
Siegner, Uwe; 2.5, Halbleiterphysik und Magnetismus, PTB-Braunschweig
Jooss, Christian; Universität Göttingen, Institut für Materialphysik, Göttingen, GERMANY
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| Quelle/Jahr | 2006 Conference on Precision Electromagnetic Measurements digest:(2006), 38 - 39 [print ed. and CD-ROM] |
| Herausgeber(in) |
Levi, Filippo; INRIM, Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, Torino, ITALY
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| ISBN | 88-7992-228-9 |
| Verlag | Torino: Ed. CLUT |
| Konferenzangaben | 2006 Conference on Precision Electromagnetic Measurements, Torino, 9-14, July, 2006, Italy |
| Freie Schlagworte | magneto optic microscopy ; MOIF ; magnetic force microscopy ; MFM |
| Zusammenfassung | Combined magneto-optic and magnetic force microscopy is introduced as a quantitative magnetic characterization technique for nanostructured thin films. Stray field and magnetization values can be imaged over large areas with high spatial resolution as will be shown for patterned hardmagnetic films. |
