| Zugriffsnummer | 15759 |
| Dokumenttyp | Konferenzartikel |
| Sprache | Englisch |
| Titel | Review on available calibration artefacts |
| Autor(in); Institution |
Koenders, Ludger; 5.12, Mikro- und Nanotopographie, PTB-Braunschweig
Wilkening, Günter; 5.1, Nano- und Mikrometrologie, PTB-Braunschweig
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| Quelle/Jahr | Proceedings of the 5th seminar on quantitative microscopy and 1st seminar on nanoscale calibration standards and methods : NanoScale 2001 ; Dimensional measurements in the micro- and nanometre range:(2001), 50 - 60 |
| Schriftenreihe | PTB-Bericht PTB-F-44 |
| Herausgeber(in) |
Hasche, Klaus; 5, Fertigungsmesstechnik, PTB-Braunschweig
Mirandé, Werner; 4.22, Bildanalyse, PTB-Braunschweig
Wilkening, Günter; 5.1, Nano- und Mikrometrologie, PTB-Braunschweig
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| ISSN | 0179-0609 |
| ISBN | 3-89701-840-3 |
| Berichtsnummer | PTB-F-44 |
| Verlag | Bremerhaven: Wirtschaftsverl. NW, Verl. für neue Wissenschaft |
| Konferenzangaben | Nano Scale 2001, Bergisch Gladbach, 15-16, November, 2001, Germany |
