| Zugriffsnummer | 14770 |
| Dokumenttyp | Konferenzartikel |
| Sprache | Englisch |
| Titel | A high-resolution TEM study on indium arsenide quantum dots embedded in silicon |
| Autor(in); Institution |
Ade, George; 2.404, Nanostrukturen für technische Anwendungen, PTB-Braunschweig
|
| Quelle/Jahr | Proceedings of the 15th International Congress on Electron Microscopy: 1 (2002), 85 - 86 |
| ISBN | 0-620-29294-6 |
| Verlag | Durban: |
| Konferenzangaben | 15th International Congress on Electron Microscopy ; ICEM-15, Durban, 1-6, September, 2002, South Africa |
