Technische Schwerpunkte der ISO/IEC 17025: Rückführung und Messunsicherheit - unter physikalischen Aspekten (Messtechnische Rückführung und Messunsicherheit als Elemente der ISO/IEC 17025)

Fay, Eberhard

Zugriffsnummer	14587
Dokumenttyp	Konferenzartikel
Sprache	Deutsch
Titel	Technische Schwerpunkte der ISO/IEC 17025: Rückführung und Messunsicherheit - unter physikalischen Aspekten (Messtechnische Rückführung und Messunsicherheit als Elemente der ISO/IEC 17025)
Autor(in); Institution	Fay, Eberhard; Q.32, Akkreditierung, PTB-Braunschweig
Quelle/Jahr	ISO/IEC 17025 für Anwender. Seminar Wünsche der Laboratorien und Anforderungen der Akkreditierer, Dienstag, 20. März 2001, Berlin:(2001), 9 S.
Verlag	Berlin: BAM
Konferenzangaben	ISO/IEC 17025 für Anwender ; Seminar "Wünsche der Laboratorien und Anforderungen der Akkreditierer", Berlin, 20, März, 2001, Deutschland

Zitierung

Fay, E. (2001). Technische Schwerpunkte der ISO/IEC 17025: Rückführung und Messunsicherheit - unter physikalischen Aspekten (Messtechnische Rückführung und Messunsicherheit als Elemente der ISO/IEC 17025). ISO/IEC 17025 für Anwender ; Seminar "Wünsche der Laboratorien und Anforderungen der Akkreditierer", Berlin, 20, März, 2001, Deutschland.

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