| Zugriffsnummer | 11514 |
| Dokumenttyp | Bericht |
| Sprache | Englisch |
| Titel | On the influence of impurities on fixed-point temperatures |
| Autor(in); Institution |
Mangum, B. W.; National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD, USA
Bloembergen, P.; Nederlands Meetinstituut: Van Swinden Laboratorium, Delft, NETHERLANDS
Fellmuth, Bernd; 7.32, Tieftemperaturmetrologie, PTB-Berlin
Marcarino, P.; Istituto di Metrologia Gustavo Colonnetti (IMGC), Torino, ITALY
Pokhodun, A. I.; D. I. Mendeleyev Institute for Metrology, St. Petersburg, RUSSIA
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| Quelle/Jahr | BIPM Comitè Consultatif de Thermometrie (CCT): 20th Meeting:(1999), 1 - 7 |
| Berichtsnummer | CCT/99-10 |
| Verlag | BIPM |
| Konferenzangaben | BIPM Comitè Consultatif de Thermometrie (CCT): 20th Meeting, Sèvres, 12.-14. April 2000, Frankreich |
| Zusammenfassung | Bericht wurde anläßlich des 20. Meetings im April 2000 erstellt |
