Zugriffsnummer 11213
Dokumenttyp Konferenzartikel
Sprache Deutsch
Titel Die Globalisierung der Metrologie
Autor(in); Institution
Kühne, Michael; Präsidium, MP, PTB-Braunschweig
Quelle/Jahr Sensoren und Messsysteme 2004 : Tagung Ludwigsburg, 15. und 16. März 2004:(2004), 11 - 18 [print ed.]; [CD-ROM] file name: B-Kühne.pdf
Schriftenreihe VDI-Berichte: 1829
Herausgeber(in)
Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG)
ISSN 0083-5560
ISBN 3-18-091829-2
Verlag Düsseldorf: VDI-Verlag
Konferenzangaben GMA-ITG-Fachtagung "Sensoren und Messsysteme 2004", Ludwigsburg, 15-16, März, 2004, Germany
Zusammenfassung 1875 wurde in Paris von den führenden Industriestaaten die "Meterkonvention" unterzeichnet. In ihr wurde das metrische System als weltweit einheitliches Maßsystem vereinbart und das Internationale Komitee für Maße und Gewichte CIPM gegründet. Im Jahre 1999 schlossen die nationalen Metrologieinstitute unter der Schirmherrschaft des CIPM eine Vereinbarung zur gegenseitigen Anerkennung ihrer Kalibrier- und Messmöglichkeiten. Im Rahmen dieser Vereinbarung verpflichten sich alle Institute, an Schlüsselvergleichen zur Bestimmung des Grades der Äquivalenz ihrer nationalen Normale teilzunehmen, Qualitätsmanagementsysteme einzuführen und ihre Kalibrier- und Messmöglichkeiten einem Peer Review Verfahren zu unterziehen. Die Ergebnisse der Schlüsselvergleiche und die Kalibrier- und Messmöglichkeiten werden in einer öffentlichen Datenbank des BIPM abgelegt.

Zitierung

Kühne, M. (2004). Die Globalisierung der Metrologie. GMA-ITG-Fachtagung "Sensoren und Messsysteme 2004", Ludwigsburg, 15-16, März, 2004, Germany.

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