| Zugriffsnummer | 10352 |
| Dokumenttyp | Dissertation |
| Peer Review | unbekannt |
| Sprache | Deutsch |
| Titel | Physikalische und technologische Limitierungen von SNS-Josephson-Kontakten für hochintegrierbare Tieftemperatur-Supraleiterschaltungen |
| Autor(in); Institution |
Hagedorn, Daniel; 2.4, Quantenelektronik, PTB-Braunschweig
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| Quelle/Jahr | (2003), 95 S |
| Dissertationsvermerk | Dissertation, Universität Jena, 2003 |
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| Verlag | Jena: |
| Freie Schlagworte | SNS-Josephson-Kontakte ; Josephson-Effekt ; Supraleitung |
| Zusammenfassung | Die vorliegende Arbeit untersucht die physikalischen und technologischen Limitierungen von neuartigen SNS-Josephson-Kontakten in Rampentechnologie. Auf der Basis von interinsisch geshunteten Nb/HfTi/Nb- und Nb/HfTi/Nb/HfTi/Nb-Kontakten konnte eine Fabrikationstechnologie entwickelt werden, die es ermöglicht, reproduzierbar sub-μm Kontakte bis hinab zu Kontaktflächen von A = 0,03 μm² herzustellen. Es werden die physikalischen Eigenschaften der Kontakte untersucht: Temperatur- und Magnetfeldabhängigkeit der kritischen Stromstärke IC, Einfluß von Mikrowelleneinstrahlung: Shapiro-Stufen, differentieller Widerstand. Zur Realisierung supraleitender digitaler Elektronikschaltungen (SDE) wird die Stromtragfähigkeit von sub-μm Nb-Leiterbahnen gemessen und der Fringe-Faktor bestimmt. Es wird gezeigt, daß sich die neuartigen Josephson-Kontakte zur Herstellung von Serienschaltungen eignen, wie sie in Josephson-Spannungsnormalen zum Einsatz kommen. Weiterhin wird die Einsetzbarkeit der neuartigen Kontakte in supraleitenden digitalen Logikschaltungen in Rapid-Single-Flux-Quantum-(RSFQ) Implementierung verifiziert. |
